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                Team Members

 

                    조용선 (Ph.D.course,4th year)

 

                    김민혁 (Ph.D.course,4th year)

 

                    이재중 (Ph.D.course,1st year)

 

                

                Alumni

 

                    강노원 (Korea Research Institute of Standards and Science)

 

                    채수정 (Siemens)

 

                    허창근 (KT Corporation.)

 

                    이정엽 (Samsung Electronics)

 

                    황세훈 (Samsung Electronics)

 

 

                Research Area

 

              1.  Image Reconstruction Based on FDTD and Design Sensitivity Analysis

              2.  Analysis and Design of Nonradiative Dielectric (NRD) Guide

 

 

 

                                          [Mode Analysis of NRD Guide Using Vector Finite Element Method (VFEM)]

 

 

 

 

                                                                          [Dispersion curves on NRD guide]

 

 

              3.  Metamaterial

 

 

          ①   구조: 주기 구조를 이용하여 negative permittivity, negative permeability를 가지는 metamaterial을 구현

 

 

        ②  LHM (Left-Handed Material): Transmission line 내에 series capacitorparallel inductor를 구현 하여            Left-handed transmission line을 구현

 

 

 

 

             

              4.  Partial Discharge

 

 

                  [절연체 내부의 부분방전 발생지점]                                             [등가 모델]

 

 

 

 

                                             [ 해석 모델로 사용된 모터 슬롯 구조 및 공극 형태]

 

 

 

 

                                 [2개의 부분 방전 펄스]                                                       [1개의 부분 방전 펄스]

 

 

 

5. Problems on Electromagnetic Interference / Compatibility (EMI/EMC)

 

 

① Electromagnetic Topology (EMT)

 

가)  연구 배경
집적화된 회로기판 내의 현상을 분석하기 위해서는 여러 가지의 해석 기법이 사용된다. 다양한 소자와 분산 및 집중회로의 과도 해석이 필요하고 외부의 필드가 회로 내부로 커플링 되는 현상을 해석하기 위해서는 전자파의 전도 및 복사 현상까지도 고려해야 하기 때문에 매우 복잡한 문제라고 할 수 있다. 따라서 이 과정 전체를 한 번에 모의하기에는 여러 가지 어려움이 뒤따른다.

 

나)  원리
EMT는 필드와 회로기판이 커플링 되는 경로를 단계적으로 해석한 후 회로의 구조에 따라 재구성한다. 이러한 해석방법은 회로해석을 이용해 복잡한 대상의 모델링을 간단하게 하고 회로와 커플링 되는 field를 고려함으로써 해석의 정확도를 높일 수 있을 것이라 예상된다.

 

다)  역사
Electromagnetic Topology(EMT)는 초기에는 Electromagnetic Interference(EMI)를 해석하기 위한 방법론으로는 생각되지 않았다. 하지만 1980년대에 들어서부터 Electromagnetic Pulse(EMP)로 인해 영향을 받는 시스템을 설계하기 위한 도구로 쓰이기 시작했다. 수 년 전에는 실험을 통해 시스템을 설계하는 방법이 빈번했지만 실험 비용이 증가하게 되면서 대부분의 회사들은 프로그램에서 실험비용을 줄여야만 했고 EMC (Electromagnetic Compatibility) 테스트는 해석 과정의 일부가 되었다. 80년대에 미국에서 최초로 C.E.Baum, Liu, Tesche에 의해 고안되었던 EMT는 1988년에 프랑스의 ONERA Dassault Aviation, Lille University에서 비행기나 위성로켓 등의 대형 시스템에서 전자파가 대상내부에 미치는 영향에 대한 문제의 해석 결과를 얻기 위해 사용했다. 1991년부터 ONERA에서는 CRIPTE이라는 수치해석 코드를 개발하였고 검증하기 위해 다양한 모델에 대해 실험을 하였다.

 

 

 

 

 

 

                       ② 적용 모델

 

 

 

 

      Paper for recent works

 

         Yoon-Mi Park, Jung-Yub Lee, Sehoon Hwang, Hyun-Kyo Jung, Young-Seek Chung and Hyeong-Seok Kim,

         “Analysis of Printed Circuit Boards Based on Electromagnetic Topology”, Journal of the Japan Society of Applied          Electromagnetics and Mechanics